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高低溫試驗(yàn)箱的測試步驟

日期:2021-02-14    編輯:高天試驗(yàn)設(shè)備    瀏覽: 1193

高低溫試驗(yàn)箱就是在溫度的基礎(chǔ)上加濕熱系統(tǒng),使做溫度的同時(shí)也可以做濕度測試,使試驗(yàn)效果更接近自然氣候,模擬出更惡劣的自然氣候,從而使被測樣品的可靠性更高。而且高低溫試驗(yàn)箱在使用時(shí)要注意一些問題,遵守一定的操作規(guī)范。那么高低溫試驗(yàn)箱的測試步驟是怎樣的呢?下面是高天試驗(yàn)設(shè)備的分享:


  高低溫試驗(yàn)箱的測試步驟:


  1.預(yù)處理:將被測樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下,直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。


  2.初始檢測:將被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照,符合要求后直接放入高低溫沖試驗(yàn)箱內(nèi)即可。


高低溫試驗(yàn)箱的測試步驟


  3.開始試驗(yàn):


  A、在樣品斷電的狀態(tài)下,試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),先將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度下降到-50℃,保持4個(gè)小時(shí);請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試,這一步非常重要,因?yàn)橥姞顟B(tài)下,芯片本身就會(huì)產(chǎn)生 20℃以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進(jìn)行測試。


  B、低溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到90℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi),保持4h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個(gè)小時(shí)后,執(zhí)行A、B測試步驟。


  C、進(jìn)行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。


  E、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。


  F、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時(shí)間可能會(huì)略有誤差。


  G、恢復(fù):試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后,應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。


  H、后檢測:對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評(píng)定。


  如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。


  以上關(guān)于高低溫試驗(yàn)箱的測試步驟就為大家分享到這里,高低溫試驗(yàn)箱是用于電工、bai電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn),檢測其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性;其測試方式主要還是要根據(jù)GB/T10592-2008的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。